|
DOI: 10.14489/td.2025.07.pp.061-066
Радаев О. А., Фролов И. В., Сергеев В. А., Зайцев С. А.
СРАВНЕНИЕ ЭФФЕКТИВНОСТИ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ СВЕТОДИОДОВ ПО ПОРОГОВОМУ ТОКУ И ПРЯМОМУ ПАДЕНИЮ НАПРЯЖЕНИЯ
(pp. 61-66)
Аннотация. Представлены результаты исследования корреляционных связей значений порогового тока и прямого падения напряжения при заданном токе с темпом спада мощности излучения InGaN/GaN светодиодов при долговременных испытаниях. По выбранным критериям отбраковки было проведено сравнение эффективности отбраковки дефектных и потенциально ненадежных светодиодов по указанным параметрам. Показано, что при отбраковке светодиодов по пороговому току вероятность ошибок второго рода существенно меньше по сравнению со стандартным способом отбраковки по прямому падению напряжения.
Ключевые слова: светодиод, пороговый ток, прямое падение напряжения, отбраковка, испытания, эффективность.
Radaev O. A., Frolov I. V., Sergeev V. A., Zaitsev S. A.
COMPARISON OF LED REJECTION METHODS BY THRESHOLD CURRENT AND VOLTAGE DROP
(pp. 61-66)
Abstract. The results of a study of correlations between the values of the threshold current and the forward voltage drop at a given current with the rate of decrease in the radiation power of InGaN/GaN LEDs during long-term tests are presented. According to the selected rejection criterion, the efficiency of LED rejection was compared according to the specified parameters. It has been found that when rejecting LEDs by threshold current, the probability of errors of the first and second kind is significantly lower compared to the standard method of direct voltage drop rejection.
Keywords: LED, threshold current, forward voltage drop, rejection, testing, efficiency.
О. А. Радаев, И. В. Фролов (Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук, Ульяновск, Россия) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
,
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
В. А. Сергеев (Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук, Ульяновский государственный технический университет, Ульяновск, Россия) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
С. А. Зайцев (АО «Ульяновское конструкторское бюро приборостроения», Ульяновск, Россия) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
O. A. Radaev, I. V. Frolov (Ulyanovsk Branch of the Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of Russian Academy of Sciences, Ulyanovsk, Russia)
V. A. Sergeev (Ulyanovsk Branch of the Kotelnikov Institute of Radioengineering and Electronics of Russian Academy of Sciences, Ulyanovsk, Russia, Ulyanovsk State Technical University, Ulyanovsk, Russia)
S. A. Zaitsev (Ulyanovsk Instrument Manufacturing Design Bureau, Ulyanovsk, Russia) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
1. Виноградова К. А., Бугров В. Е., Ковш А. Р. и др. Деградация белых и синих светодиодов при длительном времени работы // Известия высших учебных заведений. Приборостроение. 2013. Т. 56, № 11. С. 87 – 91.
2. Herzog A., Wagner M., Khanh T. S. T. Efficiency Droop in Green InGaN/GaN Light Emitting Diodes: Degradation Mechanisms and Initial Characteristics // Microelectronics Reliability. 2020. Vol. 112. P. 113792.
3. Renso N., Santi C. D., Caria A., et al. Degradation of InGaN-based LEDs: Demonstration of a Recombination-Dependent Defect-Generation Process // Journal of Applied Physics. 2020. Vol. 127, No. 18. P. 185701.
4. Богданов А. А. Контроль параметров и качества светодиодов и изделий с ними при серийном производстве // Светотехника. 2015. № 1. С. 13 – 22.
5. Мальцев А. А., Мальцев И. А., Идиатуллов З. Р. Оптимальный набор характеристик светодиодов для обеспечения их надежности и качества // Радиотехника. 2024. Т. 88, № 1. С. 86 – 91.
6. TW Pat. 20103557. LED Light Bar Inspection Method and Inspection Apparatus There of 4 / Cheng-Huiung Chen, Yen-Chien Liu, Min-Hong Zhang, Guang-Zhe Zheng; publ. 17.03.2009. 21 p.
7. JP Pat. 2006352025. Method of Inspecting Light Emitting Diode Light Source, Led Light Source, and Film Scanning Device / Hideichiro Iwahashi and Shoichi Nakano; publ. 28.12.2006. 8 p.
8. JP Pat. 2004342809. Method and Device for Inspecting Deterioration of Led / Oki Ogata, Yoshio Minato; publ. 2.12.2004. 9 p.
9. Sergeev V. A., Frolov I. V., Radaev O. A. The Relationship Between the Defectness of Emitting Nanoheterostructures of Green InGaN/GaN LEDs and Their Threshold Current Values // Technical Physics Letters. 2017. Vol. 43, No. 2. P. 224 – 226.
10. Сергеев В. А., Радаев О. А., Фролов И. В., Черторийский А. А. Оценка качества гетеропереходных светодиодов по уровню порогового тока // Известия высших учебных заведений. Электроника. 2017. Т. 22, № 1. С. 92 – 94.
11. Сергеев В. А., Фролов И. В., Радаев О. А. Связь уровня фототока светоизлучающих InGaN/GaN гетероструктур с уровнем НЧ-шума и порогового тока // Известия вузов. Электроника. 2019. Т. 24, № 1. С. 92 – 96.
12. Радаев О. А., Сергеев В. А., Фролов И. В. Измеритель порогового тока светодиодов // Физические основы приборостроения. 2023. Т. 12, № 3(49). С. 23 – 27.
13. Долин Е., Мохнаткин А. Стандартизация. Путь к успеху светодиодных средств освещения // Электроника: Наука, технология, бизнес. 2010. № 6. С. 38 – 45.
14. Абрашкина М., Дергунова Н., Рожкова Т. К вопросу о стандартизации светодиодных источников света // Полупроводниковая светотехника. 2012. Т. 2, № 16. С. 68 – 71.
15. Анализ технических параметров светодиодных светильников / по материалам компании Lighting Europe // Современная светотехника. 2019. № 1. С. 44 – 49.
16. Горлов М. И., Сергеев В. А. Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий. Ульяновск: УлГТУ, 2020. 470 с.
17. Сергеев В. А. Контроль качества мощных транзисторов по теплофизическим параметрам. Ульяновск: УлГТУ, 2000. 252 с.
1. Vinogradova, K. A., Bugrov, V. E., Kovsh, A. R., et al. (2013). Degradation of white and blue LEDs during longterm operation. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedeniy. Priborostroenie, 56(11), 87–91. [in Russian language]
2. Herzog, A., Wagner, M., & Khanh, T. S. T. (2020). Efficiency droop in green InGaN/GaN light emitting diodes: Degradation mechanisms and initial characteristics. Microelectronics Reliability, 112, Article 113792.
3. Renso, N., Santi, C. D., Caria, A., et al. (2020). Degradation of InGaN-based LEDs: Demonstration of a recombination-dependent defect-generation process. Journal of Applied Physics, 127(18), Article 185701.
4. Bogdanov, A. A. (2015). Monitoring parameters and quality of LEDs and LED products in serial production. Svetotekhnika, (1), 13–22. [in Russian language]
5. Maltsev, A. A., Maltsev, I. A., & Idiatullov, Z. R. (2024). Optimal set of LED characteristics to ensure their reliability and quality. Radiotekhnika, 88(1), 86–91. [in Russian language]
6. Chen, C.-H., Liu, Y.-C., Zhang, M.-H., & Zheng, G.-Z. (2009). LED light bar inspection method and inspection apparatus thereof (TW Patent No. 20103557).
7. Iwahashi, H., & Nakano, S. (2006). Method of inspecting light emitting diode light source, led light source, and film scanning device (JP Patent No. 2006352025).
8. Ogata, O., & Minato, Y. (2004). Method and device for inspecting deterioration of led (JP Patent No. 2004342809).
9. Sergeev, V. A., Frolov, I. V., & Radaev, O. A. (2017). The relationship between the defectness of emitting nanohetero-structures of green InGaN/GaN LEDs and their threshold current values. Technical Physics Letters, 43(2), 224–226.
10. Sergeev, V. A., Radaev, O. A., Frolov, I. V., & Chertoriyskiy, A. A. (2017). Quality assessment of heterojunction LEDs by threshold current level. Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedeniy. Elektronika, 22(1), 92–94. [in Russian language]
11. Sergeev, V. A., Frolov, I. V., & Radaev, O. A. (2019). Relationship between the photocurrent level of InGaN/GaN emitting heterostructures and the level of low-frequency noise and threshold current. Izvestiya Vuzov. Elektronika, 24(1), 92–96. [in Russian language]
12. Radaev, O. A., Sergeev, V. A., & Frolov, I. V. (2023). LED threshold current meter. Fizicheskie Osnovy Priborostroeniya, 12(3(49)), 23–27. [in Russian language]
13. Dolin, E., & Mokhnatkin, A. (2010). Standardization: The path to success for LED lighting products. Elektronika: Nauka, Tekhnologiya, Biznes, (6), 38–45. [in Russian language]
14. Abrashkina, M., Dergunova, N., & Rozhkova, T. (2012). On the standardization of LED light sources. Poluprovodnikovaya Svetotekhnika, 2(16), 68–71. [in Russian language]
15. Lighting Europe. (2019). Analysis of technical parameters of LED luminaires. Sovremennaya Svetotekhnika, (1), 44–49. [in Russian language]
16. Gorlov, M. I., & Sergeev, V. A. (2020). Sovremennye diagnosticheskie metody kontrolya kachestva i nadezhnosti poluprovodnikovykh izdeliy [Modern diagnostic methods for quality and reliability control of semiconductor devices]. UlGTU. [in Russian language]
17. Sergeev, V. A. (2000). Kontrol' kachestva moshchnykh tranzistorov po teplofizicheskim parametram [Quality control of power transistors based on thermophysical parameters]. UlGTU. [in Russian language]
Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).
Стоимость статьи 700 руб. (в том числе НДС 20%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке.
После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи.
Для заказа скопируйте doi статьи:
10.14489/td.2025.07.pp.061-066
и заполните форму
Отправляя форму вы даете согласие на обработку персональных данных.
.
This article is available in electronic format (PDF).
The cost of a single article is 700 rubles. (including VAT 20%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank.
After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail.
To order articles please copy the article doi:
10.14489/td.2025.07.pp.061-066
and fill out the form
.
|
Текущий номер
Разработка концепции и создание сайта - ООО «Издательский дом «СПЕКТР»